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制造半導(dǎo)體器件的檢測(cè)儀和器具(第90章其他品目未列名的,包括檢測(cè)光掩模及光柵用的)  9031410000

申報(bào)實(shí)例匯總

商品編碼 商品名稱(chēng)
9031410000 高低溫溫度控制測(cè)試機(jī)
9031410000 顆粒測(cè)試儀(舊)/檢測(cè)硅片表面顆粒情況
9031410000 顆粒度測(cè)試儀
9031410000 靜電卡盤(pán)
9031410000 集成電路測(cè)試器,可測(cè)得集成電路是否短路或斷路,NIDEC-READ
9031410000 集成電路注入劑量檢測(cè)設(shè)備(舊)/監(jiān)控注入機(jī)臺(tái)穩(wěn)定性
9031410000 集成電路專(zhuān)用表面缺陷檢測(cè)儀（光學(xué)檢測(cè)）
9031410000 降塵試驗(yàn)箱
9031410000 陽(yáng)光模擬器（太陽(yáng)能組件IV測(cè)試）
9031410000 間隙量測(cè)設(shè)備
9031410000 錫膏檢測(cè)儀
9031410000 錫膏檢查機(jī)（舊）
9031410000 金線(xiàn)拉力測(cè)試儀
9031410000 量子效率測(cè)試儀(舊)
9031410000 輪廓儀;測(cè)試物體表面的輪廓;測(cè)試表面顆粒高度及顆粒之間的間距;SENSOFAR-TECH,S.L.
9031410000 超聲波斷層掃描儀
9031410000 超聲波影像檢查儀
9031410000 視覺(jué)測(cè)試儀
9031410000 表面缺陷檢測(cè)設(shè)備
9031410000 薄膜厚度測(cè)試系統(tǒng)
9031410000 蒸汽老化機(jī)
9031410000 熒光顯示屏陣列
9031410000 熒光顯示屏柵網(wǎng)
9031410000 芯片檢測(cè)機(jī)
9031410000 芯片檢查機(jī)WS896-AA
9031410000 芯片檢查機(jī)FT1000-D
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS109-10-D4
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS109-10-A1
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus-3-A1
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus-20-B2
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus-2-A1
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus-10-D2
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus-1-A1
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus II-A1
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)MS100Plus II-10-A2
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)ES201-10-A1
9031410000 芯片分類(lèi)機(jī)ES101-10-A1
9031410000 自動(dòng)薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x(舊)/測(cè)試晶圓表面薄厚應(yīng)力
9031410000 自動(dòng)芯片檢驗(yàn)機(jī),HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用機(jī)器內(nèi)置數(shù)字?jǐn)z像機(jī),拍攝得出WAFER表面圖片,用機(jī)內(nèi)電腦與系統(tǒng)預(yù)設(shè)之標(biāo)準(zhǔn)圖片自行分析比對(duì),判斷WAFER上是否有外形缺陷.同時(shí)設(shè)備內(nèi)置光柵尺,利用傳感器讀取光柵尺位置信息,從而得出錫銀球所需量測(cè)尺寸.
9031410000 自動(dòng)晶粒分類(lèi)挑揀機(jī)(舊)
9031410000 自動(dòng)晶圓測(cè)試機(jī)/Prober
9031410000 自動(dòng)外觀(guān)檢查裝置
9031410000 自動(dòng)光學(xué)晶圓檢驗(yàn)機(jī);Camtek;IT行業(yè),測(cè)量晶圓的劃傷、裂痕等表面狀態(tài)
9031410000 膜厚測(cè)量?jī)xS3000SX
9031410000 膜厚測(cè)試儀（舊）/測(cè)量晶圓表面膜厚
9031410000 膜厚測(cè)試儀(舊)/測(cè)量晶圓表面膠膜膜厚
9031410000 膜厚測(cè)試儀
9031410000 缺陷測(cè)試設(shè)備
9031410000 編碼器光柵
9031410000 終端機(jī)卡接口測(cè)試儀
9031410000 終點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)/型號(hào):SP2100
9031410000 終點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)
9031410000 紅外回流掃描儀,品牌SONIX,檢查集成電器元器件內(nèi)部是否有分層,功能:非破壞性檢驗(yàn)
9031410000 穩(wěn)定度測(cè)試儀(舊)
9031410000 移動(dòng)終端智能卡接口單線(xiàn)協(xié)議測(cè)試儀
9031410000 科磊表面掃描儀(舊)
9031410000 離線(xiàn)EL測(cè)試儀
9031410000 硅片顆粒掃描儀(舊)
9031410000 硅片顆粒分析儀(舊)
9031410000 硅片表面缺陷檢查儀(舊)
9031410000 硅片表面缺陷光學(xué)檢查儀(舊)
9031410000 硅片膜厚測(cè)試儀(舊)
9031410000 硅片厚度測(cè)試儀
9031410000 硅片幾何參數(shù)測(cè)試儀
9031410000 硅晶片檢測(cè)儀
9031410000 電路板半導(dǎo)體器件光學(xué)檢測(cè)儀
9031410000 電子產(chǎn)品用檢查設(shè)備
9031410000 激光型橢偏儀
9031410000 激光器芯片老化測(cè)試裝置用測(cè)試箱
9031410000 激光器芯片老化測(cè)試裝置(八成新)
9031410000 激光器芯片窄脈沖測(cè)試儀
9031410000 測(cè)試機(jī)(舊),用于測(cè)試集成電路,CREDENCE牌,采用微電子原理,測(cè)試集成電路好壞,集成電路,型號(hào):QUARTET ONE,技術(shù)參數(shù):220V等,有測(cè)試結(jié)果顯示,顯示集成電路好壞指標(biāo)
9031410000 測(cè)試機(jī)(舊),用于測(cè)試集成電路,AGILENT牌,采用微電子原理,測(cè)試集成電路好壞,集成電路,型號(hào):E6978B,技術(shù)參數(shù):220V等,有測(cè)試結(jié)果顯示,顯示集成電路好壞指標(biāo)
9031410000 測(cè)試機(jī)(修理費(fèi))
9031410000 測(cè)試儀
9031410000 泵浦激光器老化測(cè)試裝置用卡條
9031410000 水平儀
9031410000 模組電致發(fā)光檢查設(shè)備
9031410000 檢測(cè)芯片光功率用檢測(cè)儀
9031410000 檢測(cè)器框架
9031410000 檢測(cè)器
9031410000 檢測(cè)儀
9031410000 極間距測(cè)量裝置
9031410000 晶片角度測(cè)量?jī)x,用于半導(dǎo)體薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),品牌NANO
9031410000 晶片厚度測(cè)試儀（舊）
9031410000 晶格圖像檢測(cè)機(jī)
9031410000 晶圓顆粒檢測(cè)儀（舊）
9031410000 晶圓表面金屬膜厚度檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓表面金屬污染檢測(cè)儀
9031410000 晶圓表面膜層檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓表面膜厚檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓表面膜厚檢測(cè)儀（舊，光學(xué)檢測(cè)）
9031410000 晶圓表面膜厚和離子濃度檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓表面缺陷檢測(cè)裝置（舊，光學(xué)檢測(cè)）
9031410000 晶圓表面缺陷檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓表面圖形區(qū)對(duì)中檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓缺陷檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓缺陷檢測(cè)機(jī)
9031410000 晶圓縮微檢查顯微鏡（舊）
9031410000 晶圓縮微檢查顯微鏡(舊,2003年產(chǎn))
9031410000 晶圓離子注入監(jiān)視檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓校準(zhǔn)裝置
9031410000 晶圓截面檢測(cè)裝置
9031410000 晶圓外觀(guān)目檢挑除機(jī)(舊)
9031410000 晶圓外觀(guān)檢測(cè)挑除機(jī)(舊)
9031410000 晶圓厚度綜合測(cè)試儀
9031410000 晶體阻抗計(jì)
9031410000 晶體測(cè)試機(jī)
9031410000 舊芯片翹曲度測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊芯片微粒測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊離子測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊硅片膜厚測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊硅片濃度測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊硅片厚膜測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊校平測(cè)試儀/七成新
9031410000 舊微粒測(cè)試儀/六成新
9031410000 舊帆宣自動(dòng)光學(xué)缺陷分類(lèi)機(jī)
9031410000 舊半導(dǎo)體器件用測(cè)試機(jī)修理費(fèi)
9031410000 舊半導(dǎo)體器件用測(cè)試機(jī)
9031410000 舊BUMP測(cè)試儀/七成新
9031410000 斜角/凸面晶片3-D形狀分析系統(tǒng)
9031410000 接觸式表面平整度檢測(cè)裝置
9031410000 探針測(cè)試儀(舊)
9031410000 探針臺(tái)/無(wú)品牌
9031410000 投影量測(cè)儀
9031410000 打孔檢查機(jī)/用于檢查線(xiàn)路板打孔
9031410000 快速檢測(cè)儀（檢測(cè)半導(dǎo)體器件）
9031410000 微顆粒光學(xué)檢測(cè)儀
9031410000 平整度測(cè)試儀
9031410000 島津紅外半導(dǎo)體檢測(cè)儀
9031410000 少子壽命測(cè)試儀(舊)
9031410000 套刻精度測(cè)試機(jī)
9031410000 套準(zhǔn)量測(cè)儀（舊）
9031410000 太陽(yáng)能組件測(cè)試儀BXM-2012SA
9031410000 太陽(yáng)能組件測(cè)試儀
9031410000 太陽(yáng)能電池顏色分類(lèi)系統(tǒng)
9031410000 太陽(yáng)能電池片表面瑕疵檢測(cè)儀(舊)
9031410000 太陽(yáng)能電池片測(cè)試儀
9031410000 太陽(yáng)能電池效能測(cè)試儀/舊
9031410000 太陽(yáng)能電池QE/IPCE測(cè)試系統(tǒng)
9031410000 太陽(yáng)光模擬器
9031410000 多晶硅電池片分色檢驗(yàn)儀
9031410000 多功能晶片檢測(cè)系統(tǒng)
9031410000 外觀(guān)檢測(cè)系統(tǒng)-檢測(cè)晶體管外觀(guān)
9031410000 外觀(guān)檢查機(jī)/用于檢查線(xiàn)路板成品
9031410000 在線(xiàn)光學(xué)檢查儀
9031410000 噪音測(cè)試儀
9031410000 可焊性測(cè)試機(jī)
9031410000 疊層對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)裝置
9031410000 疊對(duì)量測(cè)儀（舊，光學(xué)檢測(cè)）
9031410000 變焦光學(xué)系統(tǒng)
9031410000 厚度量測(cè)儀
9031410000 半自動(dòng)裸晶測(cè)試機(jī)
9031410000 半導(dǎo)體顆粒測(cè)試儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體設(shè)備用函數(shù)發(fā)生器
9031410000 半導(dǎo)體膜厚測(cè)量?jī)x（舊）
9031410000 半導(dǎo)體硅片檢查儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體硅片檢查儀(舊)
9031410000 半導(dǎo)體硅片檢查儀
9031410000 半導(dǎo)體用缺陷檢查儀/舊
9031410000 半導(dǎo)體用微波檢測(cè)儀
9031410000 半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)組件
9031410000 半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)(舊)
9031410000 半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備
9031410000 半導(dǎo)體檢測(cè)儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體檢查裝置
9031410000 半導(dǎo)體晶片光學(xué)檢測(cè)儀(舊)
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)儀器(舊)
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測(cè)量機(jī)（舊）
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測(cè)量機(jī)(舊)
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測(cè)量機(jī) （舊）
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測(cè)量機(jī) （舊）
9031410000 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī),
9031410000 半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀
9031410000 半導(dǎo)體器件器具
9031410000 半導(dǎo)體器件功率循環(huán)測(cè)試機(jī)
9031410000 半導(dǎo)體加工測(cè)試機(jī)
9031410000 半導(dǎo)體加工測(cè)試儀
9031410000 制造半導(dǎo)體器件的檢測(cè)器具
9031410000 制造半導(dǎo)體器件的檢測(cè)儀和器具
9031410000 制造半導(dǎo)體器件的檢測(cè)儀
9031410000 全自動(dòng)高溫晶圓應(yīng)力檢測(cè)裝置
9031410000 全自動(dòng)表貼LED分類(lèi)系統(tǒng)/SLS200C
9031410000 全自動(dòng)芯片掃描檢查系統(tǒng)
9031410000 全自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
9031410000 全自動(dòng)晶粒挑揀機(jī)
9031410000 全自動(dòng)外觀(guān)檢查機(jī)
9031410000 全尺寸光伏組件電致發(fā)光成像儀[舊]
9031410000 光致發(fā)光硅片測(cè)試儀
9031410000 光致發(fā)光測(cè)試儀
9031410000 光罩表面缺陷檢測(cè)裝置
9031410000 光罩缺陷檢測(cè)機(jī)（舊，光學(xué)檢測(cè)）
9031410000 光電開(kāi)關(guān)用檢測(cè)器具
9031410000 光柵尺
9031410000 光柵
9031410000 光掩膜版位置精度測(cè)量機(jī)
9031410000 光學(xué)表面形貌測(cè)量?jī)x
9031410000 光學(xué)測(cè)試治具
9031410000 光學(xué)宏觀(guān)缺陷掃描儀主機(jī)F30
9031410000 光學(xué)厚度量測(cè)儀
9031410000 亮度測(cè)試機(jī)(維修費(fèi))
9031410000 亮度測(cè)試機(jī)
9031410000 三維管腳檢測(cè)儀(舊)
9031410000 三極管測(cè)試機(jī)
9031410000 三光檢查系統(tǒng)
9031410000 VITROX外觀(guān)檢測(cè)系統(tǒng)VT-LP2000T
9031410000 TOPAS全處理過(guò)程分析系統(tǒng)/針對(duì)各元器件及發(fā)光二極管
9031410000 PSS測(cè)試系統(tǒng)
9031410000 PCB測(cè)試設(shè)備
9031410000 LW1000自動(dòng)耦光系統(tǒng)
9031410000 LED測(cè)試機(jī)
9031410000 LED全自動(dòng)高速測(cè)速機(jī)
9031410000 LED全自動(dòng)高速測(cè)試機(jī)/舊
9031410000 LED全自動(dòng)高速測(cè)試機(jī)
9031410000 LED亮度測(cè)試機(jī)(維修費(fèi))
9031410000 LD測(cè)試裝置
9031410000 KEYENCE晶體管外觀(guān)檢測(cè)系統(tǒng)
9031410000 DVD光學(xué)頭評(píng)價(jià)機(jī)/PULSTEC
9031410000 DVD光學(xué)頭參數(shù)測(cè)量調(diào)整儀/PULSTE
9031410000 DVD光學(xué)頭參數(shù)測(cè)量調(diào)整儀
9031410000 CCD攝像機(jī)(光學(xué)檢測(cè)模組)
9031410000 CCD影像機(jī)（光學(xué)檢測(cè)模組）
9031410000 3D光學(xué)輪廓儀
9031410000 2A級(jí)太陽(yáng)光模擬器及I-V測(cè)試系統(tǒng)
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